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TopMap μ.Lab

 

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                                                                                   TopMap μ.Lab

产品简介:

具有亚微米分辨率的显微镜系统能非接触式地确定精细和敏感结构上的参数,例如纹理、平面度、波纹和粗糙度。

Polytec 智能表面扫描技术甚至可以测量具有不同反射率的表面区域。

用于光学地形的测量显微镜可选择使用电动 XY 定位平台轻松将多个图像拼接在一起。根据需要,甚至可以开发特

定应用程序的镜头,例如,以适应需要更长防护距离或玻璃的补偿。

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技术特点:                                                   

非接触式测量微结构和敏感表面
具有 nm 分辨率的 3D 地形测量和粗糙度测量
用于粗糙和反射表面的优秀横向分辨率
智能表面扫描技术甚至可以测量具有高对比度的表面
作为一个选项,强大的 TMS 软件具有组件识别能力
具有视频叠加效果的 2D 和 3D 演示模式
传感器头也能作为独立的解决方案