TMS-1400

  TopMap Micro.View®是一种使用方便、结构紧凑的光 学分析器。结合卓越的性能和价格与这个强大的计量解 决方案。扩展100毫米的z-测量范围与CST连续扫描技术允许以纳米分辨率测量复杂的地形。这个传统的桌面设置功能集成电子，与智能对焦功能简化和加快测量程序。占地面积小，具有扩展功能。受益于可选的ECT环境比较技术，即使在嘈杂和具有挑战性的生产环境中，也能确保可靠和准确的测量结果。Micro.View® 是用于检测制造和研究领域的精密工程表面的成本计量质量控制仪器。

测量应用

      TopMap白光干涉仪测量优点：       

                            1.不具有接触性、无破坏性和可重复性

                            2.自几乎任何表面的三维真实信息 

                            3.精度、可靠性高，易于自动化 良好的横向分辨率

                            4.良好的横向分辨率

                            5.先进的垂直分辨率独立于物镜放大倍数

                     TMS-1400 TopMap Micro.View+ 符合光学表面测量设备的IOS标准，设备规格如下：

表面和精密工程的高性价比质量控制，检测粗糙度，微观结构和更多的表面细节